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詞條說明
一、HAST高加速溫濕度應力測試(HAST)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試 (USPCT)。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到**測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的較高水平來評估測試樣品的耐濕性。這個過程在時間上加速了水分滲入樣品中。二、HAST測試標準HAST 是加速耐濕性測試的加速版本。與高溫/高濕測試(85°
冷熱沖擊試驗又被稱為溫度沖擊試驗,或者高低溫冷熱沖擊試驗。它是模擬產(chǎn)品在設計研發(fā)、生產(chǎn)、運輸、安裝及使用的過程中可能會經(jīng)受的劇烈溫度變化,主要驗證的是測試品的結構件耐熱脹冷縮性能。一定程度上講,冷熱沖擊試驗屬于一種破壞性試驗。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。冷熱沖擊試驗箱執(zhí)行與滿足標準:1、GB/T2423.1-
無塵高溫箱是半導體行業(yè)中一種重要的設備,在半導體制造過程中,烘干是一個非常關鍵的步驟,可以保證芯片表面的水分和**物被徹底去除,從而提高芯片的品質(zhì)和性能。而潔凈無塵烘箱就是專門為半導體芯片烘干而設計的設備。一、半導體芯片的后續(xù)加工在半導體芯片的制造過程中,首要將硅片進行切割,然后進行腐蝕、清洗等處理,ZUI后進行電鍍和烘干,形成ZUI終的芯片產(chǎn)品。烘干是半導體制造過程中不可或缺的一步,可以去除芯片
深圳ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗箱
深圳ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗箱 深圳ESS環(huán)境應力篩選試驗箱、深圳快速溫度循環(huán)試驗箱特點 1. 1. ESS系列允許加速產(chǎn)品溫度變化速率,通過產(chǎn)品置于高速氣流的環(huán)境; 2. 2. ESS系列環(huán)境試驗箱是專為環(huán)境應力篩選應用而設計的,可根據(jù)您的具體需要生產(chǎn)制造環(huán)境應力篩選試驗箱; 3. 3. 進口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩(wěn)定,溫度過沖小,操作方便、簡單; 4. 4. 采用世界
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