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在 PCBA 應力應變測試中,選取較佳測試點是獲得準確結(jié)果的關鍵步驟。首先,考慮組件的關鍵位置。對于 PCBA 電路板來說,像 BGA(球柵陣列封裝)、QFN(四方扁平無引腳封裝)等封裝形式的芯片是重點關注對象。這些芯片引腳眾多且間距小,在受熱或受到外力時*出現(xiàn)應力集中的情況。在芯片的四個角落以及中心位置附近設置測試點是比較合適的,因為角落往往是應力變化比較明顯的地方,而中心位置可以幫助檢測整體
FTIR紅外光譜圖分析方法 FTIR紅外光譜譜圖比對分析有現(xiàn)成紅外譜圖庫參考,通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會面臨標準譜庫檢索導致的誤判 需要足夠多的化學分析、材料研發(fā)經(jīng)驗來支撐 優(yōu)爾鴻信,自1996年建立紅外光譜實驗室,并將實驗室研發(fā)技術,導入到*生產(chǎn)中,幫助解決問題,積累一些經(jīng)驗。 編輯:Amanda王莉
不同焊接材料在金相切片檢測中呈現(xiàn)出的微觀結(jié)構差異對焊點可靠性的影響如何評估?
微觀結(jié)構觀察與分析首先,通過金相切片檢測可以觀察到不同焊接材料形成的焊點微觀結(jié)構。例如,錫鉛焊料的焊點微觀結(jié)構通常呈現(xiàn)出典型的金屬晶體結(jié)構,而無鉛焊料(如錫銀銅合金)焊點的晶粒形態(tài)、大小和分布可能有所不同。觀察晶粒大小是關鍵的一步,較小的晶粒尺寸一般能提供較好的機械性能,因為晶界可以阻礙位錯運動,從而增強焊點的強度。同時,分析晶界的形態(tài)和成分也很重要,晶界處可能存在雜質(zhì)或合金元素的偏聚,這會影響晶
如何根據(jù)包裝抗壓試驗結(jié)果來優(yōu)化包裝結(jié)構設計以提高抗壓性能?
分析試驗數(shù)據(jù)與失效模式首先,仔細研究包裝抗壓試驗的結(jié)果數(shù)據(jù)。查看在何種壓力下包裝開始出現(xiàn)變形、損壞,記錄壓力 - 變形曲線的關鍵節(jié)點。同時,分析包裝的失效模式,如紙箱是棱邊先被壓潰,還是面板整體塌陷;塑料包裝是出現(xiàn)破裂、還是過度變形失去對產(chǎn)品的支撐能力等。例如,如果發(fā)現(xiàn)紙箱在抗壓試驗中總是棱邊處較先損壞,這表明棱邊位置是抗壓的薄弱環(huán)節(jié)。優(yōu)化材料選擇與組合根據(jù)試驗結(jié)果,考慮更換或優(yōu)化包裝材料。如果發(fā)
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