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詞條說明
成分分析的目的了解原料成份,質(zhì)量監(jiān)控分析產(chǎn)品中的各個組分比例,還原產(chǎn)品配方為產(chǎn)品標簽尋找證據(jù)證明產(chǎn)品不含某成份為產(chǎn)品性能下降找原因了解成份含量,以了解產(chǎn)品性能解決生產(chǎn)過程出現(xiàn)的問題比較不同時期的產(chǎn)品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產(chǎn)品質(zhì)量分析組成成分----還原配方工業(yè)問題診斷----分析原因,消除隱患成品檢驗——合格產(chǎn)品的質(zhì)保書深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司(簡稱“啟威測”或“QWC”)成立
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時又給出實際的密度,則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設(shè)
微觀成分分析????????◆腐蝕產(chǎn)物分析????????◆鍍(涂)層成分分析????????◆污染物成分分析????&
涂鍍層厚度測試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標準GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?
公司名: 深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司
聯(lián)系人: 尹小姐
電 話: 0755-27403650
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地 址: 廣東深圳光明區(qū)麗霖工業(yè)區(qū)3棟1樓
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網(wǎng) 址: ssgb1809.b2b168.com
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